IEC 60749-5:2003-01

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Beziehungen

Ersatz für:

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01.08.2000 Historisch

IEC PAS 62161:2000-08

Lebensdauerprüfung, feuchte Wärme konstant mit Vorspannung

Entwurf war:

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20.12.2002 Historisch

47/1678/RVD:2002-12

Ersetzt bzw. ergänzt:

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13.04.2017 Historisch

IEC 60749-5:2017-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung